超聲波法測量物位的特點
超聲波物位計有兩種類型:分體式--超聲波的發(fā)射和接收為兩個器件;一體式--超聲波的發(fā)射和接收為同一個器件,如圖3-9所示。
①檢測元件(探頭)可以不與被測介質接觸,即可做到非接觸測量。
②可測范圍較廣,只要界面的聲阻抗不同,液體、粉末、塊體的物位都可以測量。
③可測量低溫介質的物位,測量時可將發(fā)射器和接收器安裝在低溫槽的底部。
④由于此法構成的儀表沒有可動部件,而且探頭的壓電晶片振奮很小,所以儀表使用壽命長。
⑤缺點是探頭本身不能承受高溫,聲速受介質的溫度、壓力影響,有些介質對聲波的吸收能力很強,此法受到一定的限制。另外,電路復雜,造價較高。